การศึกษาเพื่อลดความรุนแรงในสภาวะชั่วขณะของการปลดสับตัวเก็บประจุในระบบจำหน่ายของการไฟฟ้าส่วนภูมิภาค
##plugins.themes.bootstrap3.article.sidebar##
##plugins.themes.bootstrap3.article.main##
摘要
บทความนี้นำเสนอการศึกษาเพื่อวิเคราะห์หาขนาดการเกิดความรุนแรงในสภาวะชั่วขณะอันเนื่องมาจากการปลดสับตัวเก็บประจุเข้ากับระบบจำหน่ายของสายส่งการไฟฟ้าส่วนภูมิภาคขนาด 22 kV และ 33 kV โดยทำการวิเคราะห์เพื่อหาแนวทางสำหรับการลดขนาดความรุนแรงด้วยการใช้ตัวแทรกชั่วคราวในการแก้ปัญหาดังกล่าว สำหรับบทความนี้ใช้โปรแกรม ATP/EMTP ในการสร้างแบบจำลองเพื่อแสดงให้เห็นว่าสามารถลดทอนขนาดความรุนแรงให้มีค่าลดลงอันเนื่องมาจากกระแสและแรงดันชั่วขณะ สำหรับใช้เป็นแนวทางในการสร้างหรือพัฒนาเครื่องมืออุปกรณ์ในงานการปลดสับตัวเก็บประจุ โดยมุ่งเน้นให้เกิดความปลอดภัยแก่บุคลากรผู้ปฏิบัติงานของการไฟฟ้า อีกทั้งยังสามารถลดต้นทุนนำเข้าเครื่องมือราคาแพงจากต่างประเทศได้อีกด้วย
##plugins.themes.bootstrap3.article.details##
The manuscript, information, content, picture and so forth which were published on Frontiers in engineering innovation research has been a copyright of this journal only. There is not allow anyone or any organize to duplicate all content or some document for unethical publication.
参考
Arieh L. Shenkman. Transient Analysis of Electric Power Circuits Handbook.
Springer, Netherlands, 2005.
กองแผนงานระบบไฟฟ้า ฝ่ายวางแผนระบบไฟฟ้าการไฟฟ้าส่วนภูมิภาค. ค่ากระแสลัดวงจรในระบบไฟฟ้าของ กฟภ. ปี 2550 (2007), การไฟฟ้าส่วนภูมิภาค, 2550.
Thomas E. Grebe. Application of Distribution System Capacitor Banks and Their Impact on Power Quality. IEEE Transactions on industry applications,Vol.32, No.3, May / June 1996.
M.F.Mcgranaghan , R.M.Zavadil , Impact of utility switched capacitors on customer
systems magnification at low voltage capacitors. IEEE Transactions on Power Delivery, Vol.7, No.2, April 1992.
Michael Beanland, Thomas Speas, Joe Rostron Pre-Insertion Resistors in High Voltage Capacitor Bank Switching, Westem Protective Relay Conference October 19-21, 2004
IEEE 1159-1995; IEEE Recommended Practice for Monitoring Electric Power Quality , Institute of Electrical and Electronics Engineers / 01-May-1995 / 80 pages
