การวัดสนามความเครียดในการดึงทดสอบวัสดุโดยใช้วิธีดิจิทัลอิมเมจคอร์รีเลชั่น

บทคัดย่อ

การพัฒนาวิธีดิจิทัลอิมเมจคอร์รีเลชั่น (ดีไอซี) ในการวัดสนามความเครียดเป็นวิธีการที่มีประโยชน์มากสำหรับการดึงทดสอบวัสดุ เพราะเป็นวิธีที่ไม่ต้องสัมผัสกับชิ้นงานในระหว่างการวัด หลากหลายงานศึกษาได้ใช้        ซับพิกเซลอัลกอริทึมของวิธีดีไอซีในการเพิ่มความแม่นยำให้กับการวัด แต่ยังมีรายงานการศึกษาถึงความคลาดเคลื่อนจากการวัดโดยวิธีนี้น้อยมาก ดังนั้นจุดประสงค์ของงานวิจัยนี้จะทำการพัฒนาซับพิกเซลอัลกอริทึมที่สร้างบนพื้นฐานของวิธีการนิวตันราฟสัน ซึ่งจะถูกประเมินประสิทธิภาพโดยใช้ภาพลายจุดที่ถูกสร้างจากคอมพิวเตอร์ ขนาดของซับเซตที่ใช้ในการประเมินความแม่นยำประกอบด้วยขนาดเล็ก (21´21 พิกเซล) ขนาดกลาง (31´31 พิกเซล) และขนาดใหญ่ (41´41 พิกเซล) พบว่าซับเซตขนาดเล็กจะให้ค่าความคลาดเคลื่อนเชิงระบบและค่าความคลาดเคลื่อนแบบสุ่มของการกระจัดสูงกว่าขนาดอื่น ไม่ได้มีเพียงแต่ขนาดของซับเซตเท่านั้นแต่ขนาดของจุดมีบทบาทสำคัญต่อความคลาดเคลื่อนเช่นเดียวกัน จากนั้นทำการสาธิตดึงทดสอบวัสดุจริงเพื่อสังเกตผลจากการวัดด้วยวิธีดีไอซีเปรียบเทียบกับอุปกรณ์วัดระยะยืดแบบวีดีโอเอ็กซ์เทนโซมิเตอร์ เทคนิคการปรับให้เรียบถูกใช้ลดสิ่งรบกวนที่เกิดขึ้นก่อนนำสนามความเครียดมาสร้างกราฟความเค้นความเครียดในช่วงยืดหยุ่นเชิงเส้น ในท้ายที่สุดผลจากการดึงทดสอบวัสดุจริงแสดงให้เห็นว่าวิธีดีไอซีมีศักยภาพเพียงพอที่จะใช้วัดสนามความเครียดและค่ายังมอดูลัส