IOT Prototype for Post-Test’s Satisfaction of Students’ Kindergarten.
Keywords:
RFID, NodeMCU, IOT, Satisfaction assessmentAbstract
IOT Prototype for Post-Test Satisfaction of Students' Kindergarten aimed to develop the prototype for testing satisfaction assessment after class and to store these satisfaction of kindergarten students. This prototype was built from radio frequency identification (RFID) technology and push button switch connected to microcontrollers (NodeMCU)which can sent data to the server's database system and illustrate the summary report on the website. The research result has showed that the IOT Prototype for Post-Test Satisfaction of Students' Kindergarten worked effectively and the satisfaction from sample group is very satisfied. (= 4.59, S.D.= 0.29).
References
คอนสัน ปงผาบ, ภาษาซี และ Arduino. กรุ งเทพฯ: สมาคมส่งเสริมเทคโนโลยี (ไทย-ญี่ปุ่น), 2560.
เดลินิวส์. "ปฐมวัยกับการเรียนรู้อย่างมีความสุข", 3 มีนาคม 2562. [ออนไลน์]. สืบค้นจาก https://d.dailynews.co.th/education/696340/ [สืบค้น 6 กุมภาพันธ์ 2564]
ธงชัย พรไชยสุทธิ, “การพัฒนาการสื่อสารระหว่างผู้ประสบภัยกับผู้ช่วยเหลือภายใต้ซากอาคารสิ่งก่อสร้าง โดย Smartphone to NodeMCU ESP8266,” วิทยานิพนธ์มหาบัณฑิต มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ, กรุงเทพมหานคร, 2561.
วัชรากร หนูทอง,อนุกูล น้อยไม้ และปรินันท์ วรรณสว่าง . "RFID เทคโนโลยีสารพัดประโยชน์, กันยายน - ตุลาคม 2547. [ออนไลน์]. สืบค้นจาก http://www.lampangtc.ac.th/mnfile/branch5/file/knowledge/RFID.pdf [สืบค้น 4 มีนาคม 2564]
Downloads
Published
Issue
Section
License
ลิขสิทธิ์ของบทความที่ตีพิมพ์ในวารสารฉบับนี้จะยังเป็นของผู้แต่งและยินยอมให้สิทธิ์เผยแพร่กับทางวารสาร
การเผยแพร่ในระบบวารสารแบบเปิดนี้ บทความจะสามารถนำไปใช้ได้ฟรีในการศึกษา และในทางที่ไม่เกี่ยวกับการค้า