การกำหนดมาตรฐานสำหรับการตัดสินใจ สีลิปสติกด้วย Attribute Gauge R&R
Article Sidebar
Main Article Content
บทคัดย่อ
งานวิจัยนี้ใช้เทคนิคการวิเคราะห์เชิงคุณลักษณะ (Attribute) แบบ Gauge R&R เป็นเครื่องมือการควบคุมกระบวนการตัดสินใจแบบข้อมูลนับ เพื่อกำหนดเกณฑ์การยอมรับที่มีมาตรฐานใช้เป็นขั้นตอนการตัดสินใจอนุมัติสีของผลิตภัณฑ์ลิปสติก ได้กำหนดแผนการทดลองโดยเลือกกลุ่มทดสอบ ได้แก่ กลุ่มพนักงานโรงงานกรณีศึกษา และกลุ่มลูกค้า โดยตั้งข้อสมมติฐานการศึกษาว่า ความสามารถในการให้ผลซ้ำ (Repeatability) และให้ผลซ้ำอย่างถูกต้อง (Reproducibility) ไม่แตกต่างกันของทุกกลุ่มที่ทำการทดสอบ การทดสอบนี้ได้ประยุกต์วิธีการทดสอบการแยกเฉดสี ตามทฤษฏีของ Fransworth-Munsell 100 hue เพื่อวัดความสามารถการตัดสินใจ เป็นร้อยละของการให้ผลซ้ำ (%Repeatability) และร้อยละของการให้ผลซ้ำและถูกต้อง (%Reproducibility) ผลของการทดสอบได้นำค่าความแปรปรวนของแต่ละกลุ่มมาวิเคราะห์ความสัมพันธ์ระหว่างกลุ่ม โดยเทคนิค ANOVA ซึ่งเป็นเครื่องมือที่เหมาะสมกับการวิเคราะห์ความแปรปรวนแบบเป็นกลุ่ม เมื่อได้ผลค่าความแปรปรวนไม่แตกต่างระหว่างกลุ่ม จึงได้นำผลจากการวิเคราะห์โดยตั้งเป็นเกณฑ์มาตรฐานที่ระดับความเชื่อมั่น 95% ซึ่งเป็นเกณฑ์มาตรฐานเบื้องต้นเป็นที่ยอมรับของผู้เกี่ยวข้องดังกล่าวข้างต้น เพื่อใช้เป็นเกณฑ์มาตรฐานเบื้องต้นในการสรรหาพนักงาน สรุปได้ว่าร้อยละของการให้ผลซ้ำ สามารถตั้งเป็นมาตรฐานเบื้องต้นที่ไม่ต่ำกว่าร้อยละ 79.29 และร้อยละของการให้ผลซ้ำและถูกต้อง สามารถตั้งเป็นมาตรฐานเบื้องต้นที่ไม่ต่ำกว่าร้อยละ 79.22
Article Details
นโยบายการรับบทความ
กองบรรณาธิการวารสารสถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น มีความยินดีรับบทความจากอาจารย์ประจำ และผู้ทรงคุณวุฒิในสาขาวิศวกรรมศาสตร์และเทคโนโลยี ที่เขียนเป็นภาษาไทยหรือภาษาอังกฤษ ซึ่งผลงานวิชาการที่ส่งมาขอตีพิมพ์ต้องไม่เคยเผยแพร่ในสิ่งพิมพ์อื่นใดมาก่อน และต้องไม่อยู่ในระหว่างการพิจารณาของวารสารอื่นที่นำส่ง ดังนั้นผู้สนใจที่จะร่วมเผยแพร่ผลงานและความรู้ที่ศึกษามาสามารถนำส่งบทความได้ที่กองบรรณาธิการเพื่อเสนอต่อคณะกรรมการกลั่นกรองบทความพิจารณาจัดพิมพ์ในวารสารต่อไป ทั้งนี้บทความที่สามารถเผยแพร่ได้ประกอบด้วยบทความวิจัย ผู้สนใจสามารถศึกษาและจัดเตรียมบทความจากคำแนะนำสำหรับผู้เขียนบทความ
การละเมิดลิขสิทธิ์ถือเป็นความรับผิดชอบของผู้ส่งบทความโดยตรง บทความที่ได้รับการตีพิมพ์ต้องผ่านการพิจารณากลั่นกรองคุณภาพจากผู้ทรงคุณวุฒิและได้รับความเห็นชอบจากกองบรรณาธิการ
ข้อความที่ปรากฏภายในบทความของแต่ละบทความที่ตีพิมพ์ในวารสารวิชาการเล่มนี้ เป็น ความคิดเห็นส่วนตัวของผู้เขียนแต่ละท่าน ไม่เกี่ยวข้องกับสถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น และคณาจารย์ท่านอื่น ๆ ในสถาบัน แต่อย่างใด ความรับผิดชอบด้านเนื้อหาและการตรวจร่างบทความแต่ละบทความเป็นของผู้เขียนแต่ละท่าน หากมีความผิดพลาดใด ๆ ผู้เขียนแต่ละท่านจะต้องรับผิดชอบบทความของตนเองแต่ผู้เดียว
กองบรรณาธิการขอสงวนสิทธิ์มิให้นำเนื้อหา ทัศนะ หรือข้อคิดเห็นใด ๆ ของบทความในวารสารสถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น ไปเผยแพร่ก่อนได้รับอนุญาตจากผู้นิพนธ์ อย่างเป็นลายลักษณ์อักษร ผลงานที่ได้รับการตีพิมพ์ถือเป็นลิขสิทธิ์ของวารสารสถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น
ผู้ประสงค์จะส่งบทความเพื่อตีพิมพ์ในวารสารวิชาการ สถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น สามารถส่ง Online ที่ https://www.tci-thaijo.org/index.php/TNIJournal/ โปรดสมัครสมาชิก (Register) โดยกรอกรายละเอียดให้ครบถ้วนหากต้องการสอบถามข้อมูลเพิ่มเติมที่
- กองบรรณาธิการ วารสารสถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น
- ฝ่ายวิจัยและนวัตกรรม สถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น
เลขที่ 1771/1 สถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น ซอยพัฒนาการ 37-39 ถนนพัฒนาการ แขวงสวนหลวง เขตสวนหลวง กรุงเทพมหานคร 10250 ติดต่อกับคุณพิมพ์รต พิพัฒนกุล (02) 763-2752 , คุณจุฑามาศ ประสพสันติ์ (02) 763-2600 Ext. 2402 Fax. (02) 763-2754 หรือ E-mail: JEDT@tni.ac.th
เอกสารอ้างอิง
สุทธิดา เอี่ยมเจริญ, “การลดของเสียในกระบวนการผลิตชิ้นส่วนฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟด้วยหลักการวิเคราะห์ระบบการวัดและการควบคุมกระบวนการเชิงสถิติ,” วิทยานิพนธ์ (วศ.ม), มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี, ปทุมธานี, 2555.
J. J. Lyn, M. N. Chen, “On Evaluation the Measurement Capability of High-quality Processes,” in Proceedings of the 2008 IEEE IEEM, 2008
วัฒนวิทย์ ทัดเทียม, “การวิเคราะห์ระบบการวัดแบบข้อมูลนับของขอบเลนส์สายตาขุ่นใส,” สารนิพนธ์ปริญญาบริหารธุรกิจมหาบัณฑิต, สถาบันเทคโนโลยีไทย-ญี่ปุ่น, กรุงเทพฯ, 2554.
J. Lyu and M. Chen, “A bivariate attribute measurement model for six sigma project,” in 2008 4th IEEE International Conference on Management of Innovation and Technology, 2008, pp. 1129–1134.
H. Chen, “Study of prevention mechanism in process control,” in 2012 IV International Congress on Ultra Modern Telecommunications and Control Systems, 2012, pp. 442–445.
D. W. Hoffa and C. Laux, “Gauge R&R: An effective methodology for determining the adequacy of a new measurement system for micron-level metrology,” Journal of INDUSTRIAL TECHNOLOGY, vol. 23, Oct. 2007.
