อำไพจิตร อ., โรจน์นิรุตติกุล ณ., และ แสงมณี ว. “อิทธิพลของคุณค่าที่ยึดมั่นต่อเจตคติที่มีต่อความสูญเปล่าในกระบวนการทดสอบวงจรรวม และไมโครแอสเซมบลี กรณีศึกษา บริษัท ไมโครชิพ เทคโนโลยี (ประเทศไทย) จำกัด”. วารสารครุศาสตร์อุตสาหกรรม, ปี 14, ฉบับที่ 3, ธันวาคม 2015, น. 727-33, https://ph01.tci-thaijo.org/index.php/JIE/article/view/123405.