[1]
อำไพจิตร อ., โรจน์นิรุตติกุล ณ., และ แสงมณี ว., “อิทธิพลของคุณค่าที่ยึดมั่นต่อเจตคติที่มีต่อความสูญเปล่าในกระบวนการทดสอบวงจรรวม และไมโครแอสเซมบลี กรณีศึกษา บริษัท ไมโครชิพ เทคโนโลยี (ประเทศไทย) จำกัด”, J. IND. EDUC., ปี 14, ฉบับที่ 3, น. 727–733, ธ.ค. 2015.